TCD－9302局部放電測試儀技術(shù)使用說明書

TCD－9302局部放電測試儀技術(shù)使用說明書


 

 

上海蘇特電氣有限公司 56479692

一、概述
TCD－9302局部放電測試儀是我廠研制開發(fā)生產(chǎn)的一種新型儀器。它基本上保持了原有局部放電檢測儀的優(yōu)點和功能，并致力于縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實的攜帶式儀器。該儀器是根據(jù)IEC（270）標準，利用脈沖電流法原理研制而成，并滿足GB-7354-2004、GB-1207-97、GB－1208－97中關(guān)于局部放電測試對測試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。該儀器具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動態(tài)范圍大、測試的試品范圍廣、操作簡便等優(yōu)點。并采用先進的抗干擾組件和*的門顯示電路，抗干擾能力強，并具有四種高頻橢圓掃描，適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗，新產(chǎn)品研制試驗，電機、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測試?？晒┲圃鞆S、科研部門、電力部門現(xiàn)場使用。
二、名詞、術(shù)語
1． 局部放電
局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極）。
2． 電荷量q
在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。
3． 視在放電量校準器
視在放電量校準器是一標準電量發(fā)生器，試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時局部放電測試儀的響應(yīng)，此時調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電檢測儀的量程，以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時以標準電量發(fā)生器比較后間接測出，而非直接測出，故此放電量稱為“視在放電量”。
校正電量發(fā)生器是測量局部放電時*的儀器，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測試結(jié)果的準確性。
視在放電量校準器由校準脈沖電壓發(fā)生器和校準電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時間、衰減時間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準電容值等。
校準脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。
4．檢測阻抗
檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗，以提高局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。
檢測阻抗按調(diào)諧電容范圍分1～12號。（見表1）
5．時間窗（門單元）
時間窗是為防止大于局部放電的干擾信號進入峰值檢波電路而設(shè)計的一種電路裝置。因在實際試驗時，尤其是在現(xiàn)場做試驗時，不可避免地會引入一些干擾，所以，時間窗的使用更顯得重要。
時間窗的工作原理是把橢圓掃描時基分成導(dǎo)通（加亮區(qū)域）和截止（未加亮區(qū)域）兩部分,通過改變時間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通（加亮區(qū)域），干擾脈沖置于截止（未加亮區(qū)域），此時儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值，而干擾則不論大小，皆不會影響放電脈沖數(shù)值。若此時兩個時間窗同時關(guān)閉，則儀表讀數(shù)為整個橢圓上脈沖之峰值。
三、技術(shù)參數(shù)
1．可測試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF
2．檢測靈敏度及允許電流（見表1）。
3．橢圓掃描時基
（1） 頻率：50、100、150、200、400Ｈz
（2） 旋轉(zhuǎn)：以30度為一檔，可旋轉(zhuǎn)120度。
（3） 工作方式：標準－擴展－直線。
（4） 高頻時基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。
4．顯示單元
采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
5．放大器
（1） 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。
（2） 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任選。
（3） 增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)6檔，檔間增益差10倍±5%。
（4） 細調(diào)范圍：＞10倍。
（5） 正、負脈沖響應(yīng)不對稱性：＜5%。
6．時間窗
（1） 窗寬：5度~150度（50Hz） 連續(xù)可調(diào)。
（2） 窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
（3） 兩個時間窗可分別或同時控制。
7、脈沖峰值表
（1） 線性指示：0~10*不大于5%。
（2） 對數(shù)指示：1~10*不大于5%。
表1 檢測靈敏度及輸入單元允許電流值
輸入單元序號 調(diào)電容范圍 靈敏度（PC）
（不平衡電路） 允許電流有效值
不平衡電路 平衡電路
1 6－25－100微微法 0.02 30mA 0.2
2 25－100－400微微法 0.04 60mA 0.
3 100－400－1500微微法 0.06 120mA 1A
4 400－1500－6000微微法 0.1 0.2 2A
5 1500－6000－25000微微法 0.2 0. 4A
6 0.006－0.025－0.1微法 0.3 1A 8A
7 0.025－0.1－0.4微法 0.5 2A 1
8 0.1－0.4－1.5微法 1 4A 30A
9 0.4－1.5－6.0微法 1.5 8A 60A
10 1.5－6.0－25微法 2.5 1 120A
11 6.0－25－60微法 5 2 200A
12 25－60－250微法 10 50A 300A
7R 電阻 0.5 2A 1
8、具有輔助識別放電脈沖相位的零標志系統(tǒng)。
9、工作電源 220V±10% 工頻
10、體積：440×430×180mm
11、重量：約15Kg
四、系統(tǒng)工程原理簡介
若試品Ｃa在試驗電壓下產(chǎn)生局部放電時，經(jīng)耦合電容Cｋ產(chǎn)生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號，經(jīng)低噪聲前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出放電脈沖，同時也送到脈沖峰值表（對數(shù)表）顯示其峰值。時間窗單元控制試驗電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值表的工作時間，并在這段時間內(nèi)將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變，進一步加強了抗干擾能力。
整個系統(tǒng)工作原理可參看框圖（圖1）。
 

 

 

 

 

五、通用試驗方法
（一）試驗?zāi)康?br />（1） 證實試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；
（2） 測定電壓上升時出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時的Z低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時放電低于規(guī)定值時Z高電壓（終止放電電壓）。
（3） 測定在某一規(guī)定電壓下的放電強度。
（二）試驗條件
（1） 交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過大的高次諧波。
（2） 試品的電氣、機械、溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。
（3） 由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗前至少幾小時以上的時間內(nèi)，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗電壓Z高值以上的電壓。
（4） 經(jīng)過搬運后的試品，必須靜放一段時間后再做局部放電試驗（油浸）。
（三）試驗程序
1. 將試驗區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，各種金屬物體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意各種地線是否已接地。
2. 根據(jù)不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。
3. 用視在放電量校準器（Q視）對整個測試系統(tǒng)進行刻度系數(shù)K校正。如圖1將視在放電量校準器接入線路中，調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把指針調(diào)至參考值H，則刻度系數(shù)K＝H/Q視（詳見具體操作說明5）　。校正完畢后，測試儀器的細調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動，同時應(yīng)將視在放電量校準器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準器擊穿而使高壓線路短路。
（四） 注意事項
1. 在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準備工作時掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2．對于連接線應(yīng)避免將暴露在外，防止電暈放電，尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗，必要時要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場強過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3. 一般情況下，在試驗過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時局部放電量都比正常值大很多，此時儀器的儀表必然會超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標準。當(dāng)電壓降至測量電壓時，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測量值。
4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān)，且儀器的增益細調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時針旋轉(zhuǎn)時，每降一檔量程擴大十倍；反之，順時針時，量程縮小十倍。
5. 試驗完畢后，應(yīng)對整個測試系統(tǒng)再進行一次復(fù)查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。
六、具體操作說明
（一）試驗準備
1． 根據(jù)試品的容量Ca，耦合電容的大小Ck，選取適合序號的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級繞組并聯(lián)的電容（粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計算）。例如：試品容量為120ｐF，耦合電容量為1000ｐF，則所需檢測阻抗為有 ≈107，查表1可取2號單元。
輸入單元應(yīng)盡量靠近試品，輸入單元經(jīng)8米長的測量電纜與放大器輸入插座相連。
2. 試品接入輸入單元的方法有以下幾種（見圖3）：

 

 

 

 

 

 

 

 


其中：Z為阻塞阻抗；
Ca為試品；
Ck為耦合電容。

1． 面板示意圖

 

 

 

 

 

 

4．準備
在儀器后面板AC220V插座上接上220V工頻電源，然后打開電源開關(guān)，讓儀器預(yù)熱5分鐘，同時對有關(guān)開關(guān)進行操作。
“標準－擴展－直線”開關(guān)置于標準
放大器頻帶fL、fH分別置20KHｚ，300KHｚ，放大器增益粗調(diào)置3檔，細調(diào)置中間位置，切不可一開始將粗調(diào)開關(guān)置Z。
根據(jù)不同頻率的試驗電源選擇電源頻率，以便觀察合適的橢圓。
如果中頻試驗電源，請將中頻試驗電壓開關(guān)旋在275V檔，然后再接上中頻電源。觀察數(shù)字表讀數(shù)，如果差得太多，可將試驗電壓開關(guān)往小檔位上旋一檔，直至合適值，千萬不可旋在太小檔位上，同時請注意，輸入儀器的中頻電壓萬不可超過規(guī)定值275V！，否則儀器被損壞。
橢圓旋轉(zhuǎn)可不作調(diào)節(jié)。窗開關(guān)打在關(guān)位置，以后根據(jù)干擾出現(xiàn)的相位可開窗適當(dāng)調(diào)旋轉(zhuǎn)，根據(jù)干擾情況調(diào)窗寬、位置，使干擾在門窗之外，使局部信號在窗上，以便讀取放電的數(shù)值。
線性、對數(shù)開關(guān)置于線性位置。
5. 視在放電量校準（JZF－10校正脈沖發(fā)生器）
用視在放電量校準器（JZF－10校正脈沖發(fā)生器）的輸出接于試品兩端，紅端接高壓端（引線盡可能短，以防干擾），黑端接低壓端，調(diào)節(jié)其輸出放電量，例如50PC，調(diào)節(jié)放大器增益粗調(diào)及增益細調(diào)旋鈕，使放電量表指示滿度。此時放電量表指示滿度即表示50PC的放電量，注意此時增益細調(diào)旋鈕位置不可再動。測量盒應(yīng)盡量靠近試品高壓端。
校準完畢后，拆除視在放電量校準器的連線，并關(guān)斷其電源，防止高壓損壞校準器。
6. 試驗操作
接通高壓試驗回路的電源，逐步升高電壓至規(guī)定電壓，時刻注視PC表指示，此時放電量表的讀數(shù)表示試品放電量的大小，如指示在80%，則表示試品視在放電量為50×80%＝40PC。
若此時試品放電量剛大于即超過滿度，應(yīng)立即將放大器增益粗調(diào)由原來的“3”切換到“2”檔，此時放電量表，則表示500PC，假如此時放電量指示80%，由試品放電量為500×80%＝400PC。
若此時試品放電量小于10%：
a. 應(yīng)將放大器粗調(diào)由“3”檔改至“4”檔，此時放電量表則表示5PC，假如此時放電量表指示80%，則試品視在放電量為5×80%＝4PC。
b.將儀器面板上對數(shù)、線性開關(guān)切換至對數(shù)位置，因?qū)?shù)刻度10%以下分辨率高，可直接讀出對數(shù)刻度。
旋轉(zhuǎn)“橢圓旋轉(zhuǎn)”開關(guān)使橢圓轉(zhuǎn)到預(yù)期的放電Z利于觀察之處。通常這個位置是零標脈沖分別處于橢圓上部左側(cè)及下部右側(cè)之處。連續(xù)升高電壓，注意*次出現(xiàn)持續(xù)放電，當(dāng)放電量超過規(guī)定的Z低值時的電壓即為局部放電起始電壓。
若有干信號在放電脈沖附近，可以用窗寬和窗位置將干信號擾拒之窗外，即合擾窗開關(guān)，用一個或兩個時間窗并用窗寬、窗位置來改變橢圓上加亮區(qū)域的寬度與位置，使其避開干擾脈沖，這樣，放電量表的指示值只表示放電脈沖的大小，而不表示干擾信號的值，另外也可以改變頻帶的方法來提高抗干擾能力。
注：如需判斷放電相位，接上合適的電阻分壓器，取得10V左右的零標電壓，緩緩升高試驗電壓，橢圓上將出現(xiàn)兩個零標志脈沖，通過零標志可判別放電的相位，如圖所示：

 

 

七、測試中的干擾問題
在局部放電測試中，往往由于外部干擾信號的影響，而使測試結(jié)果產(chǎn)生誤判斷，或者使測試工作根本無法進行下去。尤其對從事局部放電測試工作經(jīng)驗不多的人，更容易引起誤判斷。因此，在局部放電測試技術(shù)中，消除外部干擾成為一項很重要的技術(shù)內(nèi)容，同時也是花錢較多的一項技術(shù)措施。
（一） 外來干擾
1．與電源電壓無關(guān)的干擾
這種干擾與電源電壓（加至被試品上的電壓）無關(guān)，它不隨電源電壓的升高或降低而變化。它產(chǎn)生于：電氣開關(guān)的開閉操作、電焊起弧、吊車開動、整流電機的電刷、閃光燈、無線電電磁波以及各種工業(yè)干擾等等。這些干擾通過電源、測試回路和地線等途徑侵入進來。
2. 電源電壓有關(guān)的干擾
這類干擾一般隨電源電壓的增加而變大。它可由試區(qū)內(nèi)各個部分產(chǎn)生。例如：試驗變壓器、高壓引線、試品端部、高壓線路接觸不良、高壓試區(qū)的絕緣物體與地線（或接地金屬物）接觸、試區(qū)內(nèi)金屬物體接地不良、以及其它物體的感應(yīng)放電等等。與電源電壓有關(guān)的干擾的侵入途徑，可以通過電源、高壓導(dǎo)線、空間和地線侵入到測試回路內(nèi)。
（二）消除外來干擾的方法
1. 消除與電源電壓無關(guān)的干擾方法：應(yīng)從電源、空間、接地方式幾個方面采取措施。為了消除空間電磁波的干擾，應(yīng)將試驗室加以屏蔽。對于由電源侵入的干擾，一般在電源進口處加隔離變壓器和濾波裝置。消除由接地網(wǎng)來的干擾，應(yīng)采取一點接地方式。
2. 消除與電源有關(guān)的干擾措施：可將高壓導(dǎo)線加粗（用較粗的蛇皮管、薄鐵皮圓筒或鋁筒）；對被試品端部加防暈罩；試區(qū)內(nèi)各地線和金屬物應(yīng)良好接地；試區(qū)內(nèi)的絕緣物體嚴禁與金屬接地體接觸；在高壓線下部地面上不應(yīng)有螺釘、地線頭等金屬物體。
八、附件
說明書　　　　　　　　　　1份
質(zhì)量反饋單　　　　　　　　1份
電源線　　　　　　　　　　1根
高頻線　　　　　　　　　　1根
測試電纜　　　　　　　　　1根（8米）
保險絲　　　　　　　　　　2只
合格證
九、成套裝置
1. 輸入阻抗
1~12號任選，7R號測長電纜用。
2. 視在放電量器校準器（JZF－10校正電量發(fā)生器，局放儀校正脈沖發(fā)生器）任選。
3. LB系列工頻、中頻濾波器
4. SBP系列三倍頻感應(yīng)試驗設(shè)備
5. 無局放電阻分壓器50KV、100KV、150KV、200KV任選。
6. 無局放耦合電容系列
7. YDTW無局放試驗變壓器系列
8. 工頻試驗控制臺
十、視在放電量校準器參數(shù)及使用
（一） 局放儀校正脈沖發(fā)生器
局放儀校正脈沖發(fā)生器是專為局部放電的檢測而設(shè)計的，本儀器的精度、上升時間、重復(fù)頻率等直接決定了局部放電的測試精度，此儀器符合IEC標準。此校正脈沖發(fā)生器輸出電量10~5000PC任意調(diào)節(jié)。適用于先校準后試驗，先試驗后校準的局放試驗中。
一、技術(shù)參數(shù)
1．方波幅值
滿刻度為2.5V、5V、10V、25V、50V；
精度為±2%
2. 衰減器：10:1衰減3級。
3. 輸出脈沖極性
“＋”每周期提供一個主正向脈沖；
“±”每周期提供一個正向脈沖和一個負向脈沖；
“—”每周期提供一個負向脈沖。
4. 方波前沿＜0.05us
5. 重復(fù)頻率：45Hｚ~65Hz，連續(xù)可調(diào)。
6. 脈沖衰減時間100us~1000us
7. 內(nèi)阻＜75Ω。
8. 工作方式：感應(yīng)同步，手動調(diào)節(jié)。
9. 一次工作時間5分鐘。
10．儀器工作環(huán)境
0~40℃，相對濕度≯85；
儀器周圍無強烈振動，儀器平放工作，不得傾斜。
11．電源：10V可充電電池。
二、操作程序
用戶可根據(jù)實際情況選擇輸出幅值和Cq（10pF、100pF）、模擬放電量為Q=Cq×Uo。
將輸出電纜一端接到“衰減輸出”高頻插座，另一端接到裝有注入電容的匹配盒。
將極性開關(guān)調(diào)節(jié)到所需要的脈沖型號，按下啟動按鈕，儀器進入工作狀態(tài)。調(diào)節(jié)“方波幅值”旋鈕到所需要的電壓值范圍，然后再調(diào)節(jié)“細調(diào)”，將同步選擇開關(guān)打到調(diào)頻，然后調(diào)節(jié)旋鈕使脈沖的頻率盡量接近于試驗電源的頻率，如果需要同步，將開關(guān)打到感應(yīng)接線柱上，此時脈沖與電網(wǎng)頻率同步。當(dāng)“極性開關(guān)”旋到“V”檢查時，看表頭指示是否在紅線以下，如果在紅線以下時則需充電。
校正結(jié)束后，必須將匹配盒拿下，以免升高壓時打壞，將儀器置于“關(guān)”位置。
注：此儀器工作時必須平放，不能傾斜，另此儀器的方波信號為不接地的，不用接地。
JZF－10型正電量發(fā)生器的主要技術(shù)指標及使用
JZF－10型校正電量發(fā)生器是一種小型的可充電電池供電的視在放電量校準器，它可以分別以四種放電量向試品兩端注入1.2KHｚ左右的校正脈沖，可用于先校準后試驗的局放試驗中，適合于電工委員會IEC－270所推薦的任何一種試驗電路。
（一）主要技術(shù)參數(shù)
電池電壓　　　　　　1.25×8V
輸出電荷量　　　　　5、50、500PC或5、10、50、100PC
方波前沿　　　　　?。?.05us
脈寬：　　　　　　　100us~1000us
內(nèi)阻：　　　　　　?。?5Ω
重復(fù)頻率　　　　　　1.2KHｚ
頻率變化　　　　?。?plusmn;200Hｚ
注入電容　　　　　10PF、100PF或10PF、20PF
（二）使用方法
首先檢查JZF－10校正脈沖發(fā)生器的電池電壓，如面板上電壓表指示，在8V以上方能正常工作。
將輸出的紅、黑兩個端子上接上導(dǎo)線，紅端子上的導(dǎo)線盡量短，且靠近試品的高壓端，黑線導(dǎo)線接試品的低壓端，將校正電量開關(guān)置于5、10、50、100、500中任何合適一檔即可校正。頻率可在1.2KHｚ附近調(diào)節(jié)。
校正電量發(fā)生器使用后及時將調(diào)節(jié)電荷量的波段開關(guān)旋在關(guān)位置。如校正電量發(fā)生器工作時表頭指示在8V以下，則需充電，充電要適時，且時間要連續(xù)達到5小時。如校準電量發(fā)生器常期未用，則每月補充一次電。
十一、常見圖譜分析
（1）接觸不良
這種干擾源如圖1所示。其特點是干擾波位于橢圓時基的零點附近。在正負半波上對稱出現(xiàn)，幅值相差不大。干擾在低電壓時即出現(xiàn)。電壓增大時，干擾占位區(qū)域也增大，由于疊加效果幅值增大較慢。有時在電壓達到某一定數(shù)值后會*消失。
造成這種干擾的原因有：試驗回路中金屬對金屬接觸不良，塑料電線半導(dǎo)電屏蔽層中粒子間接觸不良，電容器卷繞鋁箔電極與插接片接觸不良等。
（2）浮動電位物體
波形見圖2，特別是在電壓峰值之前的正負半波部分出現(xiàn)。等幅值間隙不等。由于余輝，有時成對的出現(xiàn)，有時圖像有飄動。電壓增加時，根數(shù)增加，間隙縮小，中間值不變。有時電壓增加到一定值后干擾信號會消失，再降低電壓時，又會重新出現(xiàn)。
起因：金屬或碳質(zhì)導(dǎo)體之間的間隙放電。它可以發(fā)生在試樣上或測試回路中。在兩個孤立的導(dǎo)電物之間，例如地面上處于浮動電位的多種物體間發(fā)生。
（3）外部電暈
波形如圖3，特別是僅在試驗電壓的一個半波中出現(xiàn)，位于外施電壓的峰值部分，等幅值，等間距。電壓增加時，放電訊號波的根數(shù)增加，但幅值總不變。
起因：高壓電極的或邊緣對空氣中的放電。若干擾訊號位于橢圓時基的負關(guān)周，則電暈處于高電壓下，若干擾訊號位于時基橢圓的正半周，則在接地部分，有時也可能高壓、接地部分都有電暈放電，則時基橢圓的正負半周就出現(xiàn)兩組訊號。
（4）液體介質(zhì)中的放電
波形見圖4，特別：在試驗電壓正負半周峰值位置均有一組訊號，同一組訊號等幅值，等間隔，一組中間值較大的訊號先出現(xiàn)，隨電壓增加值也增大。一組中間值小的訊號其幅值不隨電壓變化。
起因：在絕緣液體中發(fā)生了或邊緣電暈放電?；蛞唤M大的訊號出現(xiàn)在正半周，則位于高壓部分；若它出現(xiàn)在負半周，則處于接地部分。
（5）繼電器，接觸器的動作
干擾訊號波形見圖5，特點：在時基橢圓上干擾訊號波形分布不規(guī)則，間隙地出現(xiàn)，且同試驗電壓大小無關(guān)。
起因：閃光燈，熱繼電器，接觸器和各種火花試驗器或有火花放電的記錄器動作時造成。
（6）可控硅元件
干擾訊號波形見圖6，特點：干擾訊號在時基橢圓上之位置固定，每一元件產(chǎn)生一個獨立的高頻脈沖訊號。電路接通，電磁耦合效應(yīng)增強時，訊號幅值增加，也可能發(fā)生波形展寬、相移，從而在時基上占位增加。
起因：供電網(wǎng)絡(luò)中有可控硅器件在運行。干擾的大小同所用可控硅器件的功率直接有關(guān)。
（7）異步電機
干擾波形見圖7。特點：在時基橢圓上正負半周波形出現(xiàn)對稱的二組訊號，且沿掃描時基逆時針方向移動。
起因：異步電機運行時產(chǎn)生的干擾訊號耦合到檢測回路中來。
（8）螢光燈
干擾波形見圖8。特點：在橢圓時基上出現(xiàn)欄柵狀幅值大致相等的脈沖，并伴有正負半波時對稱出現(xiàn)的二簇脈沖組。
（9）電動機
干擾波形見圖9。特點：沿橢圓時基均布，等幅值每一個單個訊號或“山”字形。
起因：帶換向器的電動機如風(fēng)扇、電吹風(fēng)運轉(zhuǎn)時所發(fā)出的干擾訊號。
（10）無線電干擾
干擾波形見圖10，特點：沿整個時基橢圓分布的幅值有調(diào)制的高頻正弦波。
起因：高頻電力放大器，無線、廣播話筒等。
（11）中高頻工業(yè)設(shè)備
干擾波形見圖11。特點：訊號在時基橢圓上連續(xù)發(fā)生，但僅在半周內(nèi)出現(xiàn)。
起因：感應(yīng)加熱裝置及頻率接近局部放電檢測頻率的超聲波發(fā)生器等。
（12）磁飽和產(chǎn)生的諧波
干擾波形見圖12。特點：在時基橢圓正負半波上對稱出現(xiàn)一對諧波振蕩訊號，訊號幅值隨電壓增加而增加，電壓除去，訊號消失。訊號穩(wěn)定，能重復(fù)再現(xiàn)。
起因：試驗系統(tǒng)中鐵芯設(shè)備（試驗變壓器，并聯(lián)或串聯(lián)電抗器，濾波電抗器，匹配變壓器，調(diào)壓變壓器）磁飽和時產(chǎn)生的諧振訊號。
（13）電極在電場方向運動
干擾波形見圖13。特點：僅在時基橢圓的半周中出現(xiàn)二個訊號脈沖，它們相對于峰值點對稱分布。起始點該二訊號很靠近，隨電壓增大，二者逐漸分開，且有可能產(chǎn)生新的訊號脈沖對。
起因：電極（尤其是金屬箔電極）在電場作用下運動。
（14）介質(zhì)表面放電
干擾訊號波形見圖14。特點：放電訊號出現(xiàn)在試驗電壓峰值之前。正負半周中都有，而且幅值基本相等。訊號幅值和位置有隨機性變化。開始時，放電訊號是可分辨　的，到一定電壓值后便難以分辨。
起因：二個接觸的絕緣導(dǎo)體之間介質(zhì)表面上的，或介質(zhì)表面上切向場強較高的區(qū)域發(fā)生放電。
（15）漏電痕跡和樹枝
波形特點：訊號與一般典型的圖像不符合，波形呈不規(guī)則，不確定的圖像，與電壓有關(guān)。
起因：臟污絕緣中泄漏，絕緣局部過熱致的碳痕跡或電樹枝足道等。
上述有些圖像，如（4）、（13）、（14）、（15）等也可能即屬試品本身的缺陷。（15）則為介質(zhì)內(nèi)部放電之圖像。